Réalisation de mesures de réflexion sur différents échantillons

Jean-Pierre Monchau, de l'équipe Themacs, était au 18ème Congrès International de Métrologie, qui se tenait à Paris Expo Porte de Versailles, du 19 au 21 septembre 2017.

Le CIM est un événement rassemblant 1000 participants de 50 pays, enseignants et chercheurs, constructeurs et décideurs, utilisateurs et prestataires de tous domaines et de tous niveaux.

L'objectif de ce congrès est triple:

  1. Améliorer les processus de mesure, d'analyse et d'essais des divers acteurs (tout en maîtrisant les risques);
  2. Suivre les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et les application pratiques de ces dernières;
  3. Retrouver tous les interlocuteurs du secteur sur un même lieu pendant trois jours.

Au programme de ce congrès ? Une exposition des innovations technologiques et des professionnels de la mesure, des conférences, des tables rondes pour échanger, des visite techniques en entreprise, et des animations pratiques pour des moments de convivialité ! 

Jean-Pierre Monchau en pleine explication de son poster

Au cours de cet événement, il a présenté une affiche sur la mesure de conductivité thermique des liquides par méthode fil chaud, en comparant les régimes stationnaires et transitoires.

Il a aussi pu échanger avec d'éminents collègues et partenaires, avec lesquels nous espérons avoir l'occasion d’interagir par la suite !

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