Nouveau porte échantillon pour des mesures d’émissivité thermique à haute température
Posté le 13 mars 2020 dans Actualités
Pour nous permettre de mesurer l’émissivité totale hémisphérique à haute température et sous vide, nous avons réalisé un nouveau porte échantillon.
Celui-ci permet de n’utiliser qu’un seul échantillon et possède une garde régulée en température.
L’avantage d’avoir un seul échantillon est de réduire la puissance rayonné. En effet à 1500K la densité de puissance rayonnée peut atteindre 300kW/m2.
La méthode utilisée est une méthode calorimétrique. Cela nécessite de travailler sous vide secondaire (10-5mBar) et dans une enceinte refroidie à l’azote liquide.
Ce porte échantillon vient compléter les dispositifs existant à THEMACS Ingénierie pour la mesure des propriétés thermo-physiques des matériaux.
Nos moyens d’usinage nous permettent de nous adapter à vos échantillons avec une grande réactivité.
Usinage du porte échantillon inox pour mesure à 1200°C